Interpretacja indywidualna z dnia 09.01.2013, sygn. ILPB4/423-339/12-4/MC, Dyrektor Izby Skarbowej w Poznaniu, sygn. ILPB4/423-339/12-4/MC

Podatek dochodowy od osób prawnych w zakresie odliczenia od podstawy opodatkowania wydatków na nabycie nowych technologii.

Na podstawie art. 14b § 1 i § 6 ustawy z dnia 29 sierpnia 1997 r. Ordynacja podatkowa (t. j. Dz. U. z 2012 r., poz. 749 ze zm.) oraz § 2 i § 6 rozporządzenia Ministra Finansów z dnia 20 czerwca 2007 r. w sprawie upoważnienia do wydawania interpretacji przepisów prawa podatkowego (Dz. U. Nr 112, poz. 770 ze zm.) Dyrektor Izby Skarbowej w Poznaniu działając w imieniu Ministra Finansów stwierdza, że stanowisko Spółki z ograniczoną odpowiedzialnością, reprezentowanej przez Pełnomocnika, przedstawione we wniosku z dnia 04 października 2012 r. (data wpływu 10 października 2012 r.) o udzielenie pisemnej interpretacji przepisów prawa podatkowego dotyczącej podatku dochodowego od osób prawnych w zakresie odliczenia od podstawy opodatkowania wydatków na nabycie nowych technologii jest prawidłowe.

UZASADNIENIE

W dniu 10 października 2012 r. został złożony ww. wniosek, uzupełniony pismem z dnia 12 grudnia 2012 r. (data wpływu 14 grudnia 2012 r.), o udzielenie pisemnej interpretacji przepisów prawa podatkowego w indywidualnej sprawie dotyczącej podatku dochodowego od osób prawnych w zakresie odliczenia od podstawy opodatkowania wydatków na nabycie nowych technologii.

W przedmiotowym wniosku został przedstawiony następujący stan faktyczny.

Spółka jest podmiotem zajmującym się produkcją części do karoserii samochodowych.

Spółka dba, by wykorzystywane przez Nią technologie zapewniały uzyskanie i utrzymanie produktów najwyższej jakości. W celu optymalizacji procesu produkcyjnego, Spółka nabyła system pomiarowy do automatycznego pomiaru i oceny defektów powierzchni A. (dalej: System). Pomiary wykonywane na Systemie umożliwiają szybką i bardzo dokładną ocenę defektów powierzchni elementów karoserii jak: wgniecenia, obicia po uderzeniu, rysy, zafalowania, przewężenia i pęknięcia. System wykorzystywany jest do nadzoru procesu technologicznego i inspekcji na elementach gotowych. Umożliwia to skrócenie do minimum czasu niezbędnego dla prawidłowego ustawienia procesu technologicznego, bez konieczności wykonywania długotrwałych pomiarów manualnych. W konsekwencji, doszło do skrócenia procesu produkcyjnego, obniżenia jego kosztów oraz zmniejszenia energochłonności, a jednocześnie do ograniczenia do minimum produkcji wyrobów nie spełniających wymagań jakościowych oraz zmniejszenia ilości odpadów technologicznych.